JM-700DIC 工业金相显微镜
工业显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级显微镜用户在使用时能够体验其**性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，可观察较厚的标本。稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。
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技术规格
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观察头
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30°铰链式三目（50mm-75mm）
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目镜
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WF10×/25mm
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WF10×/20mm,带0.1mm十字分划板
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物镜
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平场无限远复消色差 长工作距离物镜：5×/0.15/W.D.35mm、
10×/0.28/W.D.35mm、20×/0.40/W.D.20mm、50×/0.55/W.D.13mm
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转换器
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可调中心四孔转换器
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平台
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双层移动平台
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平台尺寸: 190mm×140mm
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移动范围：50mm×40mm
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滤色片
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插板式滤色片（绿、蓝、中性）
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调焦
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粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构 微动格值0.002mm
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光源
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带孔径光栏和视场光栏，卤素灯12V/50W,AC85V-230V，亮度可调节
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偏光装置
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检偏镜可360度转动，起偏镜、检偏镜均可移出光路
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检测工具
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0.01mm测量尺
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可供附件
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二维测量软件
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专业金相图像分析软件
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测微目镜
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130万、300万、500万像素CMOS电子目镜
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卤素灯12V/100W
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精密载物台:X-Y行程25mm×25mm,移动精度＜5um,数显手轮**小值:0.1um,360°旋转盘
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摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×
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物镜: 2×
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压平机
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彩色1/3寸CCD 520条线
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特点说明
1． 采用了UIS高分辨率、长工作距离无限光路校正系统的物镜成像技术。
2． 拓展了物镜的复用技术，无限远物镜与所有观察法相兼容包括明视野法、偏光法，并在每一观
察法中均提供高清晰的图像质量。
3． 采用非球面Kohler照明，增加观察亮度。
4． WF10×（Φ25）超大视野目镜。
测微目镜：
测微目镜是各种光学测量仪器的附件，装配在适当的光学仪器上，可以作各种用途的测量。如测定孔距，各种刻线及键槽等的宽度和长度、金属表面质量、光谱带宽、纤维织物密度和野外标本等，也可以作某些显微硬度计的附件来测量压痕及划痕尺寸。